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tider

木虫 (正式写手)


[交流] 半导体带隙

DFT计算带隙都会由于低估d轨道的能量而使带隙偏低,我看到文献中有很多减少这个误差的方法。比如
1,用计算值求出某掺杂浓度的b值,然后代入实验数据得到该浓度的带隙。
2,用一些改进算法,GGA+SQS(special quasirandom structures approach)。 我不知道是不是应该这样表示。

大家能讨论一下两个问题么?
a,第一个方法可靠与否。
b,大家都遇到了什么改进算法,这些算法应该怎么表示呢

[ Last edited by tider on 2011-5-26 at 09:38 ]
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stractor

金虫 (著名写手)


★ ★
tider(金币+1):谢谢参与
zhang668(金币+1): 多谢交流 2011-05-28 18:18:22
tider(金币+1): 谢谢 2011-05-28 18:22:49
SQS只是对晶体结构的处理有帮助,并不对电子结构的计算有改进。
文章是对BexZn1-xO的结构用SQS确定,并不是说ZnO的能带用SQS确定。
7楼2011-05-28 05:28:59
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stractor

金虫 (著名写手)


★ ★
youzhizhe(金币+2): 谢谢交流。 2011-05-29 16:32:01
tider(金币+1): 2011-05-29 17:34:58
我不知道这边文章,标题,作者,刊物什么都没有。LDA和GGA计算的ZnO的带隙是在0.8eV左右。也不知道这篇文章计算的ZnO是什么结构。
从你列的那几句话还看不出有什么方法计算的带隙。SQS 是一种建立晶格结构的方法,楼主还是google一下什么是SQS 吧

[ Last edited by stractor on 2011-5-29 at 14:40 ]
9楼2011-05-29 14:28:09
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