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renren小星星

木虫 (小有名气)

[求助] 透射谱有干涉,如何求得真实透过率

我测一个比较薄的几十um,前后面都抛光的样品,然后测红外的透射谱,透射谱中出现了前后表面的干涉,这样我如何确定这个样品的真实透过率呢?也就是如何消去这个干涉呢?
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SCU_magiclee

铁杆木虫 (正式写手)

硅材料研发人员

【答案】应助回帖

★ ★ ★
夕阳西下(金币+3): 谢谢交流! 2011-04-19 12:03:35
renren小星星(金币+5): 2011-04-20 11:18:02
可以试试以下几种小技巧。
(1)将样品边缘垫高,但是垫起硅片的东西不能被红外光斑照射到,即不在光路上。依据是样品垫高后会改变光程差,可能就能消除干涉条纹;
(2)尝试一下改变分辨率,我个人认为应该降低分辨率,如果你现在用的1cm-1的分辨率,那么可以试试2cm-1,4cm-1;
(3)不要让样品和光路垂直,即样品倾斜一个角度;
(4)如有条件,可以试试用配备有布儒斯特变角附件的红外光谱仪。
是金子总会发光!!!
2楼2011-04-19 00:27:33
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kevinsun17

铜虫 (小有名气)

【答案】应助回帖

引用回帖:
Originally posted by SCU_magiclee at 2011-04-19 00:27:33:
可以试试以下几种小技巧。
(1)将样品边缘垫高,但是垫起硅片的东西不能被红外光斑照射到,即不在光路上。依据是样品垫高后会改变光程差,可能就能消除干涉条纹;
(2)尝试一下改变分辨率,我个人认为应该降低 ...

(3)不要让样品和光路垂直,即样品倾斜一个角度;或改变光程差对于相干长度较高的光源可能没什么用。只是改变干涉条纹间距之类的。其实那相干的透射谱是比较难看,但对于基本的峰谷判断应该影响不大吧,做一个点状图为没那么明显的。期待更好的解决方法~
为失败找借口前,请先为成功找方法
3楼2011-04-25 21:26:56
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renren小星星

木虫 (小有名气)

第(3)点 实验验证无效....@@ 只是位置有点移动....
bruker 80V 有(4)这样的附件嘛?
4楼2011-04-27 20:41:59
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曹桂源

新虫 (小有名气)

你如果只是测透射率,先加个毛玻璃试试,我也不太清楚,你做个试验,有结果了告诉我哦。呵呵。
5楼2011-10-03 09:54:34
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0272323

金虫 (小有名气)

如果知道模的厚度和折射率实部,而且楼主比较闲,可以直接把模的透射干涉谱算出来,然后在透射谱上扣除就行了
6楼2011-10-03 22:01:26
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怨士无怨

铜虫 (小有名气)

调整一下元件的距离
7楼2011-10-06 11:57:02
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