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renren小星星

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[求助] 透射谱有干涉，如何求得真实透过率

我测一个比较薄的几十um，前后面都抛光的样品，然后测红外的透射谱，透射谱中出现了前后表面的干涉，这样我如何确定这个样品的真实透过率呢？也就是如何消去这个干涉呢？

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1楼 2011-04-18 19:42:53

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SCU_magiclee

铁杆木虫 (正式写手)

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【答案】应助回帖

★ ★ ★
夕阳西下(金币+3): 谢谢交流！ 2011-04-19 12:03:35
renren小星星(金币+5): 2011-04-20 11:18:02

可以试试以下几种小技巧。
（1）将样品边缘垫高，但是垫起硅片的东西不能被红外光斑照射到，即不在光路上。依据是样品垫高后会改变光程差，可能就能消除干涉条纹；
（2）尝试一下改变分辨率，我个人认为应该降低分辨率，如果你现在用的1cm-1的分辨率，那么可以试试2cm-1，4cm-1；
（3）不要让样品和光路垂直，即样品倾斜一个角度；
（4）如有条件，可以试试用配备有布儒斯特变角附件的红外光谱仪。

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是金子总会发光！！！

2楼2011-04-19 00:27:33

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kevinsun17

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【答案】应助回帖

引用回帖:

Originally posted by SCU_magiclee at 2011-04-19 00:27:33:
可以试试以下几种小技巧。
（1）将样品边缘垫高，但是垫起硅片的东西不能被红外光斑照射到，即不在光路上。依据是样品垫高后会改变光程差，可能就能消除干涉条纹；
（2）尝试一下改变分辨率，我个人认为应该降低 ...

（3）不要让样品和光路垂直，即样品倾斜一个角度；或改变光程差对于相干长度较高的光源可能没什么用。只是改变干涉条纹间距之类的。其实那相干的透射谱是比较难看，但对于基本的峰谷判断应该影响不大吧，做一个点状图为没那么明显的。期待更好的解决方法~

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为失败找借口前，请先为成功找方法

3楼2011-04-25 21:26:56

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