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【求助】关于Dielectric function的计算与实际测量的介电频谱的关系
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如题所述，用MS计算的dielectric function与实验测的介电常数频谱有什么关系？MS计算的dielectric function横坐标是能量是不是就对应着实验中的交变电场？为什么实部会随着频率的变化，有起伏？而虚部是代表损耗，是由于材料偶极矩无法跟上外场频率变化而产生的滞后，产生的热量，我的理解是频率越快损耗应该更大，然后趋于一个稳定值，但是我用MS算出的都是一个随频率的起伏变化，看到文献还报道说当虚部几乎为0时对应着脚plasma frequency（等离子频率），此处非常不理解，欢迎大家解答或讨论。 |
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2楼2011-03-01 11:10:12
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Hector8275(金币+4): 2011-03-01 11:14:18
Hector8275(金币+4): 2011-03-01 11:20:57
zzy870720z(金币+2): 谢谢指点 2011-03-01 11:56:39
Hector8275(金币+4): 2011-03-01 11:14:18
Hector8275(金币+4): 2011-03-01 11:20:57
zzy870720z(金币+2): 谢谢指点 2011-03-01 11:56:39
| MS计算的是光频的介电常数，是有电子跃迁导致的介电性能，方法是先根据Fermi黄金定律，根据电子跃迁计算介电虚部，然后根据卡拉莫斯-克朗尼克关系式计算介电实部；这和你试验中测定的光学性能，也就是光频的介电常数是吻合的。而通常测得介电常数频谱频率可能远低于光频，这时候极化包括离子位移极化，偶极子转向极化以及自发极化等，电子极化贡献很小；另外，通常的介电频谱对应的是介电弛豫导致的阶梯型或损耗中的峰值，由于频率远小于光频，因此，电子贡献不大。 |
3楼2011-03-01 11:12:04
4楼2011-03-01 11:20:42
5楼2011-03-01 11:22:24
6楼2011-03-01 12:07:48
7楼2011-03-01 15:59:51
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