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yongbuwanji

新虫 (初入文坛)


[交流] 【求助】请教介孔SiO2的XRD检测

对介孔SiO2负载其它物质的样品进行了XRD检测,检测出了负载上去的物质,但图谱中没有测到SiO2的衍射峰。

是不是因为介孔SiO2非晶,所以没有相应的衍射峰?

“介孔SiO2由于非晶,图谱中没有相应衍射峰。”这句话严谨吗?

谢谢
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yongbuwanji

新虫 (初入文坛)


自己顶一下可以吗
2楼2011-01-21 09:56:04
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最后的战役

铁杆木虫 (著名写手)


wsht212: 谢谢交流,希望常来! 2011-01-22 16:08:18
多数是无定形的
3楼2011-01-21 10:08:42
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最后的战役

铁杆木虫 (著名写手)


微孔全硅沸石有晶体的
4楼2011-01-21 10:09:35
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jun2886

新虫 (小有名气)


同问

wsht212: 谢谢交流,希望常来! 2011-01-22 16:08:30
呵呵,同问
5楼2011-01-21 15:43:56
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wsht212(金币+1): 谢谢交流,希望常来! 2011-01-22 16:08:46
“介孔SiO2由于非晶,图谱中没有相应衍射峰。”这句话不严谨,严格的说XRD中没有衍射峰的并不一定是非晶态,可能有其他很多的原因!
6楼2011-01-21 17:12:49
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xhtangxh

木虫 (著名写手)



wsht212(金币+1): 2011-01-22 16:09:05
如果是长程有序的介孔SiO2,在低角度范围(2theta 0.5~5度)一般是有衍射峰的,而骨架若是短程无序则在高角度范围(至少在20~24度范围)还应有一个弥散峰,因此“介孔SiO2由于非晶,图谱中没有相应衍射峰”是不严谨的。对于介孔材料,一般要综合低角度和高角度范围有无衍射峰分析,说明骨架的长程和短程有序性,而不应以非晶或结晶来描述。
7楼2011-01-21 21:25:11
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