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yongbuwanji

新虫 (初入文坛)

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[交流] 【求助】请教介孔SiO2的XRD检测

对介孔SiO2负载其它物质的样品进行了XRD检测，检测出了负载上去的物质，但图谱中没有测到SiO2的衍射峰。

是不是因为介孔SiO2非晶，所以没有相应的衍射峰？

“介孔SiO2由于非晶，图谱中没有相应衍射峰。”这句话严谨吗？

谢谢

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1楼 2011-01-20 15:15:58

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xhtangxh

木虫 (著名写手)

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★
wsht212(金币+1): 2011-01-22 16:09:05

如果是长程有序的介孔SiO2，在低角度范围(2theta 0.5~5度)一般是有衍射峰的，而骨架若是短程无序则在高角度范围(至少在20～24度范围)还应有一个弥散峰，因此“介孔SiO2由于非晶，图谱中没有相应衍射峰”是不严谨的。对于介孔材料，一般要综合低角度和高角度范围有无衍射峰分析，说明骨架的长程和短程有序性，而不应以非晶或结晶来描述。