【求助】ZrO2的XRD谱线峰更加尖锐，说明什么问题[急]？ - 无机非金属 - 前沿热点

11楼2010-11-08 17:07:52

njutzl

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Originally posted by user11 at 2010-11-08 13:30:27:

谢谢楼上的各位是同种粉末制备的陶瓷涂层只工艺上存在差异谢乐公式我看过的资料适用于晶粒尺寸小于100nm，这个晶粒尺寸指的是什么？扫描电镜标尺得到的尺寸是否可信呢

晶粒尺寸不是颗粒尺寸，扫描电镜看到的是颗粒尺寸，晶粒是指一个周期性排列的完整结构，其取向一致，是一个单晶，内部为单相，无晶界，而一个颗粒包含很多晶粒，晶粒之间有晶界

12楼2010-11-08 17:37:46

stonebrother

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说明你的颗粒较大。如果小颗粒则衍射峰宽泛

追求卓越是我的信念，探求真理是我的信条，诚信做人是我一贯的传统，胜不骄败不馁是一生贯彻的基本准则。

13楼2010-11-08 17:51:25

user11

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引用回帖:

Originally posted by njutzl at 2010-11-08 17:37:46:

晶粒尺寸不是颗粒尺寸，扫描电镜看到的是颗粒尺寸，晶粒是指一个周期性排列的完整结构，其取向一致，是一个单晶，内部为单相，无晶界，而一个颗粒包含很多晶粒，晶粒之间有晶界

谢谢你的指教，那既然谢乐公式适用的是晶粒尺寸<100nm，那么是否就是说在使用谢乐公式的时候必须采用其他方法比如TEM等先确定晶粒尺寸大小～那谢乐公式没意义了吧

如何判断谢乐公式的适用性呢如何知道已测试的晶粒直径是否符合谢乐公式的范围谢谢

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14楼2010-11-08 18:35:54

njutzl

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引用回帖:

Originally posted by user11 at 2010-11-08 18:35:54:

谢谢你的指教，那既然谢乐公式适用的是晶粒尺寸<100nm，那么是否就是说在使用谢乐公式的时候必须采用其他方法比如TEM等先确定晶粒尺寸大小～那谢乐公式没意义了吧

如何判断谢乐公式的适用性呢如 ...

不用，如果你不是精确确定晶粒尺寸的话，先用谢乐公式就够了，此时你计算得到的晶粒尺寸小于100nm的话，测量值与实际值接近，反之，则测量值小于实际值。
再者如果晶粒尺寸大于100nm了，那颗粒尺寸大了去了，可能都不适合做X射线衍射了了，通常即使是几十微米的粉晶材料用谢乐公式也可以的

15楼2010-11-09 08:32:37

gulijian

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几十微米的粉晶材料用谢乐公式，是不可能的算出来的结果肯定差太多。峰尖锐，高，说明结晶充分晶粒较大。楼主的图，变化不大，完全是正常现象。

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16楼2010-11-16 21:57:43