[交流] 请教：XPS 结果分析的几点困扰 已有8人参与

最近在做Sn合金粒子表面的XPS测试，由于是第一次做XPS测试，对结果进行分析时，有很多的困扰啊，希望能得到大家的帮助。 得到的Sn 3d 窄扫图谱如下： 通过一些文献得出锡合金的表面氧化物的存在有两种：SnO和SnO2，即Sn2+和Sn4+，所以我就想根Sn 3d 窄扫图谱进行拟合分峰分Sn2+和Sn4+的峰。在分峰过程中有几点疑问，实在是不明白： （1）是不是只需要取窄扫图谱上的Sn 3d 5/2单峰进行拟合和分峰，还是要对图上的双峰同时进行拟合和分峰呢？ （2）通过查阅相关资料，查处的SnO和SnO2的标准峰位都不止一个：(图中有一SnO的结合能比SnO2的要大，不是说氧化态越高，结合能越大的吗?) 在用XPS Peak 软件分峰时，峰位怎么确定呢？看不同的文献里分峰的SnO和SnO2的峰位也不一致；而我也发现峰位不同时，是可以得出不同的分峰结果的。 （3）XPS Peak 软件分峰时，是不是就是通过不断调整不同的参数：峰位、半峰宽、峰面积、L/G的值 等 拟合来得到和原峰重叠较好的峰呢？这样的结果好像具有很大的不确定性呢。 （4）最后就是，我要是不进行分峰的话，是不是也能说样品表面氧化物只有一种：SnO2? [ Last edited by 风铃木木 on 2010-10-20 at 13:35 ]

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