| 查看: 1061 | 回复: 2 | ||
[交流]
【求助】XPS：聚合物中的C和N的样品制备和测试注意事项
|
|
手头有一个含有C和N的聚合物（有机，不导电），想了解其中C和N在修饰后价态的变化，文献中也有许多用XPS表征的，但是，大多没有实验细节，我考虑来考虑去，可能这是XPS专家公知的吧，于是我就依葫芦画瓢，将我的粉末样品用水分散，然后cast到镀有100nm Au的Si表面，测试的时候以Au的4f （84.0 eV）校正。但是我还是发现有问题，同一个样，多次测量不一致，特别是C的峰，似乎样品薄厚对于charge的影响不一样，比如未校正谱图中Au的4f位置有的时候差别很大！ 所以，还望高手指点，万分感谢！ |
回复此楼
2楼2010-10-13 10:03:52
3楼2010-10-19 17:01:36