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nano_st

银虫 (正式写手)

[交流] 【求助】XPS:聚合物中的C和N的样品制备和测试注意事项

手头有一个含有C和N的聚合物(有机,不导电),想了解其中C和N在修饰后价态的变化,文献中也有许多用XPS表征的,但是,大多没有实验细节,我考虑来考虑去,可能这是XPS专家公知的吧,于是我就依葫芦画瓢,将我的粉末样品用水分散,然后cast到镀有100nm Au的Si表面,测试的时候以Au的4f (84.0 eV)校正。但是我还是发现有问题,同一个样,多次测量不一致,特别是C的峰,似乎样品薄厚对于charge的影响不一样,比如未校正谱图中Au的4f位置有的时候差别很大!

所以,还望高手指点,万分感谢!
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w5w2l1

铁虫 (小有名气)

happy169:专业版区严厉打击灌水行为,请注意置顶版规 2010-10-13 19:20:59
沙发不懂
2楼2010-10-13 10:03:52
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l_cjy

银虫 (小有名气)

虫虫

nano_st(金币+1):谢谢参与讨论,呵呵:) 其实我更加想知道如何校正峰位置 2010-10-19 21:21:36
对C、N进行XPS窄扫,然后用分峰软件进行分峰就能判断其价态的变化了。
3楼2010-10-19 17:01:36
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