| 查看: 856 | 回复: 2 | |||
[交流]
【求助】XPS:聚合物中的C和N的样品制备和测试注意事项
|
|
手头有一个含有C和N的聚合物(有机,不导电),想了解其中C和N在修饰后价态的变化,文献中也有许多用XPS表征的,但是,大多没有实验细节,我考虑来考虑去,可能这是XPS专家公知的吧,于是我就依葫芦画瓢,将我的粉末样品用水分散,然后cast到镀有100nm Au的Si表面,测试的时候以Au的4f (84.0 eV)校正。但是我还是发现有问题,同一个样,多次测量不一致,特别是C的峰,似乎样品薄厚对于charge的影响不一样,比如未校正谱图中Au的4f位置有的时候差别很大! 所以,还望高手指点,万分感谢! |
» 猜你喜欢
论文终于录用啦!满足毕业条件了
已经有13人回复
2025年遐想
已经有5人回复
投稿Elsevier的杂志(返修),总是在选择OA和subscription界面被踢皮球
已经有8人回复
求个博导看看
已经有18人回复
» 本主题相关价值贴推荐,对您同样有帮助:
请问哪里有TGA-GC-MS测试?
已经有10人回复
碳纳米管做导电填料
已经有22人回复
2楼2010-10-13 10:03:52
3楼2010-10-19 17:01:36







回复此楼