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小木虫论坛-学术科研互动平台 » 材料区 » 晶体 » 粉末晶体 » 【请教】在Si（100）基片上沉积的薄膜测量XRD图解。
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阿鑫哦也

新虫 (初入文坛)
★
小木虫: 金币+0.5, 给个红包，谢谢回帖
引用回帖:
9楼: Originally posted by 小小蕾蕾 at 2012-09-26 08:00:15
请问Si(100)基片上的(400)峰是在33度吗？
我这次做的样品测XRD在33度都会出现一个很强的峰，强度达到50000，当我把样品转90度测的时候这个峰会消失或者变小，不知道是不是硅片上的峰，在jade里面没有查到...

我也出现了那个峰，请问楼主最后怎么解决的
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11楼2015-11-26 11:41:21
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