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小木虫论坛-学术科研互动平台 » 专业学科区 » 物理 » 凝聚态物理 » 【求助】有什么手段可以测量一种新材料的半导体性质。
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huigui_988

铁虫 (小有名气)

[交流] 【求助】有什么手段可以测量一种新材料的半导体性质。 已有8人参与

新合成了一种材料，纳米级的粉末或薄膜。想知道此物质的半导体特性，如p- or n-type? 载流子浓度、寿命等，什么手段可以测量出来？望各位指教。Thx。
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1楼 2010-07-13 11:35:54
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wei.ji

木虫 (正式写手)
★
小木虫(金币+0.5):给个红包，谢谢回帖交流
霍尔效应，啥都能知道了
引用回帖:
Originally posted by huigui_988 at 2010-07-13 11:35:54:
新合成了一种材料，纳米级的粉末或薄膜。想知道此物质的半导体特性，如p- or n-type? 载流子浓度、寿命等，什么手段可以测量出来？望各位指教。Thx。

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http://sim.phys.ruc.edu.cn
4楼2010-07-16 03:07:11
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chenguang5895

木虫 (著名写手)
★
小木虫(金币+0.5):给个红包，谢谢回帖交流
Hall Effect , 最常用的。
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2楼2010-07-13 13:35:26
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msphy

木虫 (小有名气)
★
小木虫(金币+0.5):给个红包，谢谢回帖交流
同意楼上，先测量霍尔系数，通过正负号就能判断载流子类型。
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Cogito, ergosum
3楼2010-07-14 17:54:16
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pear2030

木虫 (著名写手)
★
小木虫(金币+0.5):给个红包，谢谢回帖交流
需要说明的是，薄膜更便于霍尔测量
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5楼2010-07-17 03:15:10
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