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jasonchan

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[交流] 【求助】关于介孔分子筛SBA-16的XRD分析已有6人参与

前段时间写了一篇文章，主要对介孔分子筛SBA-16浸渍不同量的（10%、20%、30%、40%）的TEPA，对着五种样品(SBA-16、SBA-16-10%、SBA-16-20%、SBA-16-30%、SBA=16=40%)分别作了XRD，结果显示随着浸渍量的增加，原来的衍射峰不断减小，当浸渍量为40%的时候，衍射峰几乎没有了，我在文中的解释是“随着TEPA浸渍量的增加, SBA-16的孔道填充度不断增加, 使得修饰后样品的孔道有序度降低, 孔径减小. 当样品TEPA浸渍量为40 wt%的时候, 图谱中不能观察到该样品的衍射峰, 这表明此时样品的孔道已经被TEPA所堵塞, 因此载体SBA-16的最大TEPA浸渍量在30~40 wt%之间.”
但是专家给我的评审意见为：“... 40 wt% 的时候, 图谱中不能观察到该样品的衍射峰, 这表明此时样品的孔道已经被氨基所堵塞，因此载体 SBA-16 的最大氨基浸渍量在30~40 wt%之间”，此解释错误。孔道堵塞不可能造成XRD图谱无衍射峰。”
所以诚心请教各位，该怎么对峰强度减小做出解释？怎么回答专家的提问呢，先谢谢各位了

[ Last edited by jasonchan on 2010-6-24 at 18:09 ]

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1楼 2010-06-24 17:54:05

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jasonchan

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引用回帖:

Originally posted by liudanokokok at 2010-06-24 22:01:48:
专家的说法更有道理
介孔材料出现的衍射峰，一个原因是因为结构的有序性（必然条件）；二个是因为孔壁和孔的密度不同，或者叫做衍射衬度。
关于第二点，比如除去F127的SBA-16的XRD峰强度要比未除去模板后大得多 ...

十分感谢您的解答。