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yjyang07木虫 (著名写手)
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[交流]
【交流】测量半导体薄膜的带隙 已有13人参与
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高手们总结一下测量半导体薄膜的带隙的实验方法~~~~ 对于生长在不透明衬底上的半导体，带隙如何测量啊？ |
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 折射率测量 |
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匿名
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3楼2010-05-27 21:33:40
hezongl
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元小雪:可以上传到纳米盘 2010-05-28 09:13:09
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一种测量半导体薄膜材料光学带隙的新方法 申请号/专利号： 200910089681 本发明属于半导体薄膜检测领域，特别涉及一种测量半导体薄膜材料光学带隙的方法。本发明从结果拟合角度对透射和反射光谱进行解谱分析，求出准确的吸收系数，在此基础上采用Ｔａｕｃ公式求出准确的光学带隙。本发明方法对现有技术所存在的问题进行了严格的计算分析和处理，可以消除光在膜基系统的反射对透射的影响和衬底的吸收对透射的影响这两个问题造成的误差，使光学带隙的准确程度大幅提高。 斑竹自己可以在网络上下载，提供一个下载专利的网址，输入申请号就可以： http://www.drugfuture.com/cnpat/cn_patent.asp |
2楼2010-05-27 19:32:32
M.K
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4楼2010-05-27 23:58:21
cord 
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5楼2010-05-28 00:24:35