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小木虫论坛-学术科研互动平台 » 材料区 » 晶体 » 测试表征 » 【请教】粉末XRD衍射仪能否做单晶体的晶向测定呢？
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r9arrow

金虫 (小有名气)

[交流] 【请教】粉末XRD衍射仪能否做单晶体的晶向测定呢？ 已有3人参与

如题，单晶薄板样品，能够用粉末XRD衍射仪精确测定样品表面的晶体取向呢？似乎不太可能

[ Last edited by r9arrow on 2010-4-24 at 20:49 ]
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突然来了一个机会，空空的没有目的；就像姑娘当初生了我们，我们没有说愿意
1楼 2010-04-24 00:54:39
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yznian

至尊木虫 (著名写手)
★ ★
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帝夫(金币+1):谢谢回帖交流 2010-04-24 19:55
不能啊 XRD只能做一些半定量的测量和对比
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3楼2010-04-24 18:03:18
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blackcrab

禁虫 (正式写手)
★ ★
小木虫(金币+0.5):给个红包，谢谢回帖交流
帝夫(金币+1):谢谢回帖交流 2010-04-24 09:03
本帖内容被屏蔽
2楼2010-04-24 06:21:15
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r9arrow

金虫 (小有名气)
引用回帖:
Originally posted by blackcrab at 2010-04-24 06:21:15:
你说的粉末XRD是指的什么？XRD theta-2theta 衍射仪？
theta-2theta衍射仪当然可以用于薄膜样品的检测，只是得到的结果不能说明是否单晶

呵呵，我原意是测量单晶wafer表面的定向精度，表面大体取向实际是已知的，但是想确定表面精确的实际取向。。。呵呵，改过来了
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突然来了一个机会，空空的没有目的；就像姑娘当初生了我们，我们没有说愿意
4楼2010-04-24 20:45:40
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