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wwxwwq

金虫 (小有名气)

[交流] 【求助】四点探针法怎么测碳化硅的电阻已有1人参与

我的是碳化硅的试条,宽高都是12mm,长度现在有二十几mm,想做一下电阻率的测试,我看实验室的四点探针仪器是WC的针头,想测一下电阻率,以前也是这种碳化硅试条,做测试的时候也磨光过一个表面,但是试样本身气孔率就有24%以上了,磨的也是不很光,所以测的时候,电阻率的数值变化的好厉害,好像是表面不够光吧。
  现在又要做电阻率测试了,该怎么制样好些?好像还是很难磨的特别光
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yn6319

金虫 (小有名气)

引用回帖:
Originally posted by younie at 2010-09-17 23:44:02:


你这个四探针电阻率测试仪是测表面电阻的吧。这种测试仪测的探针周围的表面电阻,并且四个探针之间距离为1mm左右,感觉误差较大。
可以用四探针的电阻测定仪测定体积电阻,然后根据尺寸计算电阻率。我就是这 ...

你有没有详细的测试原理和方法方面的资料,谢谢
7楼2010-09-27 08:56:04
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linshufeng

银虫 (小有名气)

我帮你顶一下!我也想了解呢
2楼2010-03-27 13:43:46
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tjumark

金虫 (著名写手)

★ ★
wwxwwq(金币+2): 2010-04-15 21:18
化学小工(金币+2):鼓励交流 2010-04-18 04:55
四探针测定的是表面电阻,一般用于薄膜方块电阻的测定;对于后尺寸的块体试样和lz的高气孔率、高电阻试样,建议采用体积电阻测定仪器,可以用高阻仪或LCR databridge等。
另外,测试电极的制备也是很重要的。
知足常乐,奋斗不息。
3楼2010-03-27 21:26:47
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wwxwwq

金虫 (小有名气)

引用回帖:
Originally posted by tjumark at 2010-03-27 21:26:47:
四探针测定的是表面电阻,一般用于薄膜方块电阻的测定;对于后尺寸的块体试样和lz的高气孔率、高电阻试样,建议采用体积电阻测定仪器,可以用高阻仪或LCR databridge等。
另外,测试电极的制备也是很重要的。

可不可以推荐几个具体的设备,我用四探针法又测了一下自己烧出来的SiC
的试条,感觉和真实值应该有很大的差距!我添加过其它的导电的材料,电阻率变化都不是很大,而且每个试条在不同的位置测出来的电阻变化都好大!平均值都没法去取!
4楼2010-04-17 12:56:52
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