| 查看: 321 | 回复: 2 | |||
| 当前主题已经存档。 | |||
xhzhi1985木虫 (著名写手)
|
[交流]
【请教】关于薄膜介电常数的测量
|
||
| 请教一下，我想测在硅片或石英片上沉积的薄膜的介电常数，但测量时必须带着衬底一块测量，那么测量的结果应该是薄膜和衬底两部分贡献的结果，有没有什么处理的方法用于除去衬底的贡献对测量结果的影响，衬底的介电常数已知，希望有高手给指导一下，谢谢！ |
回复此楼» 猜你喜欢
2026年面上项目中了，2A+B, 会评顺利通过
已经有11人回复
-
大龄残疾硕士的一点执念
已经有19人回复
-
今年E04面上
已经有19人回复
-
刑法学论文投稿求助
已经有5人回复
-
Journal of Environmental Chemical Engineering
已经有3人回复
-
最后一年，祈求好运
已经有3人回复
-
风电环氧领域
已经有3人回复
-
售T0P一区SCI文章，我:8O5.51.O.54,科目齐全,可＋急
已经有4人回复
-
植酸TLC薄层色谱爬板
已经有6人回复
shijp_1982
新虫 (初入文坛)
- 应助: 0 (幼儿园)
- 金币: 158
- 帖子: 7
- 在线: 6.4小时
- 虫号: 797935
- 注册: 2009-06-24
- 性别: GG
- 专业: 集成电路制造与封装
2楼2009-11-27 21:00:51
xhzhi1985
木虫 (著名写手)
- 应助: 0 (幼儿园)
- 金币: 14582.7
- 散金: 731
- 红花: 2
- 沙发: 1
- 帖子: 2371
- 在线: 300.5小时
- 虫号: 846695
- 注册: 2009-09-13
- 性别: GG
- 专业: 半导体材料
3楼2009-12-02 19:20:48