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【专题】TEM培训系列I:基础
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应wdwsnnu的要求,开个专题:TEM培训系列。按Williams&Carter的教材《TEM》,分为四部分:基础、衍射、成像、谱学。 教材请见:http://muchong.com/bbs/viewthread.php?tid=1471283 首先是基础部分。先把以前的帖子的内容拷贝在这里,作为引言。 借Williams&Carter的新版《TEM》出版的东风,咱们来试试开个TEM培训班吧。由于水平有限,邀请temedx, refnew及其他TEM专家合作、指正。 就以Williams其人其书的简单介绍开始吧。 Williams出身TEM领域著名的剑桥学派,以分析电子显微学见长,尤其是高空间分辨的EDS能谱分析。早年(1984?)出版过一本“Analytical Electron Microscopy”的书。在Lehigh大学的时候,组织了一批专家开TEM培训班,影响很大。这本TEM教材就是在此基础上整理而成。一出版便成为TEM学科的标准教材。虽然国际上也有些人对其中某些疏漏颇有微词,但考虑到TEM已经发展成为一个很大的分析综合平台,完整的论述需要在衍射、光学、成像、谱学等众多分支都有较深的造诣。尽管Williams和Carter两位教授都是一流学者,有些疏漏也再所难免。瑕不掩瑜,仍不失为TEM经典之作,至少在教育方面如此。 《TEM》全书分为4个部分: 1. Basics. 介绍TEM系统的硬件结构、电子光学、样品制备。 2. Diffraction. 包括衍射几何、运动学衍射、动力学衍射、衍射技术如汇聚束衍射CBED。衍射是TEM理论与实际分析的基础,是所有准备进入TEM领域的人不可忽视的。 3. Imaging. 核心内容是衍射衬度和相位衬度,对STEM的Z衬度也有一些讨论。关于位错、层错、界面结构的分析请参见这一部分。 4. Spectroscopy. 包括EDS和EELS两部分。从基础、定性、定量等各方面都做了细致的介绍。在EELS部分,对用能量损失近边结构(ELNES)分析电子结构也有涉及。 [ Last edited by Platinum on 2009-8-19 at 21:40 ] |
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27楼2009-08-25 03:24:05
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EELS和Raman谱很类似,区别也许仅仅在于EELS用电子,Raman用光子, Raman有Stocks线,位于Rayleigh线的低频一侧,光子损失能量,声子 获得能量,Raman谱还有anti-Stockes线,位于Rayleigh线的高频一侧 ,声子损失能量,被光子得到。EELS中电子失去能量,声子或者 plasmon得到能量,反过来,声子也能传递能量给电子,问题是如何通过仪器解析。当然,电子散射过程中,电子电性是不能忽略的,这点不想光子散射和中子散射,也许库伦力决定了在散射过程中电子只能损失能量,这点不确定,等高手解答。 类似的方法在质谱里也找得到counterpart,比如MB-TOF谱里 非弹性散射很重要的一种是Auger电子,这个之后得好好说说 [ Last edited by GrasaVampiro on 2009-8-24 at 20:54 ] |
28楼2009-08-25 03:50:19
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显微镜的远场分辨率决定于使用的波的波长,由rayleigh判据表示, 光学显微镜分辨率约500nm,浸油,紫光可以再低一些。 电镜决定于电子波长,或者等效的,加速电压, 中子显微镜,离子显微镜的分辨率理论上比电镜高,但问题在于,单色的短波长的快中子源要么是反应堆,要么是散裂源,都不可能做到很小,辐射防护是问题,而且中子成像问题也比复杂,所以限制了应用,题外话,中子散射截面和电子的散射截面是不同的,得到的信息也不仅相同,前者主要被核子散射,而后者主要被电子散射,而且得到的信息往往是互补的。 离子显微镜的问题主要是成像,而且,既然都带电,优势不如电镜 至于x射线显微镜不普遍的原因很简单,x射线的强度是个很大问题,普通轫致辐射源强度往往不够,同步辐射源又太大,而且,x射线的汇聚,偏折,成像都是不小的问题 至于SPM类的显微镜,比如STM,AFM,SNOM及其变种,都是近场成像,不受Rayleigh判据限制,STM,AFM适当情况下小于nm不难,SNOM达到30纳米不难 |
32楼2009-08-26 02:50:36
34楼2009-08-26 07:48:22
35楼2009-08-26 07:54:15
40楼2009-08-27 23:58:30
41楼2009-08-28 00:02:34
53楼2009-09-07 07:36:09







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