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多晶硅的长晶问题
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大家好，我是从事太阳能光伏行业的，主要工作内容是多晶硅的长晶铸锭，在实际生产中，我们有一项红外探伤测试，通过IR成像，检测硅棒中的杂质、硬质点、裂纹以及微晶信息。 附件是我们铸锭一部分的IR图像，从图像中可以明显看出：在晶锭下部分出现了几条条明显的暗条纹，一般来说，对大的柱状晶，IR能直接透过，但是当硅中存在杂质或晶界密度较大（位错密度较大）的区域，会出现阴影。我很想知道这个暗条纹出现的原因。我个人推测的原因是，这个暗条纹很可能是带状偏析造成的，因为它有一个明显的特征，偏析带与固液界面平行。带状偏析的成因很大一部分原因是由于长晶速率不稳定造成的。 |
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3楼2009-08-20 11:25:16
2楼2009-08-20 00:48:50
