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lifeilong

铜虫 (初入文坛)

[交流] 多晶硅的长晶问题

大家好,我是从事太阳能光伏行业的,主要工作内容是多晶硅的长晶铸锭,在实际生产中,我们有一项红外探伤测试,通过IR成像,检测硅棒中的杂质、硬质点、裂纹以及微晶信息。
    附件是我们铸锭一部分的IR图像,从图像中可以明显看出:在晶锭下部分出现了几条条明显的暗条纹,一般来说,对大的柱状晶,IR能直接透过,但是当硅中存在杂质或晶界密度较大(位错密度较大)的区域,会出现阴影。我很想知道这个暗条纹出现的原因。我个人推测的原因是,这个暗条纹很可能是带状偏析造成的,因为它有一个明显的特征,偏析带与固液界面平行。带状偏析的成因很大一部分原因是由于长晶速率不稳定造成的。
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zhaixiren

铜虫 (小有名气)


小木虫(金币+0.5):给个红包,谢谢回帖交流
有可能是生在速率不稳固液界面留下的,由于结晶速度不一样造成晶格结构的不尽相同,在晶界处留下的痕迹。
2楼2009-08-20 00:48:50
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lifeilong

铜虫 (初入文坛)

谢谢你的回复,定向凝固制备的多晶硅锭,原则上是竖直生长的柱状晶粒,因此晶界应该是与生长界面垂直的,如果在晶界处留下痕迹,那个痕迹也应该是竖直的。目前我比较想知道,锭底部细带状阴影,是不是由于长晶速率不稳定,形成的位错区,并不是形核速率大导致的微晶!是这样的吗?
3楼2009-08-20 11:25:16
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