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多晶硅的长晶问题
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大家好,我是从事太阳能光伏行业的,主要工作内容是多晶硅的长晶铸锭,在实际生产中,我们有一项红外探伤测试,通过IR成像,检测硅棒中的杂质、硬质点、裂纹以及微晶信息。 附件是我们铸锭一部分的IR图像,从图像中可以明显看出:在晶锭下部分出现了几条条明显的暗条纹,一般来说,对大的柱状晶,IR能直接透过,但是当硅中存在杂质或晶界密度较大(位错密度较大)的区域,会出现阴影。我很想知道这个暗条纹出现的原因。我个人推测的原因是,这个暗条纹很可能是带状偏析造成的,因为它有一个明显的特征,偏析带与固液界面平行。带状偏析的成因很大一部分原因是由于长晶速率不稳定造成的。 |
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