| 查看: 188 | 回复: 2 | |||
| 当前主题已经存档。 | |||
[交流]
【求助】粉末材料不压片用哪种方法可以测载流子浓度？
|
|||
| 请教各位大虾：掺杂材料不压片能测载流子浓度么？哪里能测啊？ |
回复此楼» 猜你喜欢
能否退出参与的面上项目解除限项
已经有21人回复
-
没有任何消息-是不是就凉了
已经有3人回复
-
建议基金发布提前给出明确的时间点
已经有16人回复
-
如果此刻你正在为国基感到焦虑，不妨来听听这首《基金之外》
已经有4人回复
-
今日不放榜？网传国自然预计 8 月 27 日可查结果
已经有21人回复
-
估计是周四
已经有4人回复
-
我面上完蛋了
已经有9人回复
-
2026国自然函评费到账
已经有18人回复
-
范进中举一文的中心思想
已经有7人回复
-
朋友圈看到的
已经有9人回复
» 本主题相关商家推荐: (我也要在这里推广)
qfw_68
版主 (文坛精英)
有尾巴的青蛙
- 应助: 120 (高中生)
- 贵宾: 0.414
- 金币: 85739.1
- 散金: 3020
- 红花: 212
- 沙发: 7685
- 帖子: 39489
- 在线: 4852.7小时
- 虫号: 797958
- 注册: 2009-06-24
- 性别: GG
- 专业: 自然语言理解与机器翻译
- 管辖: 有奖问答
利用红外反射谱测定微纳米硅粉中的多数载流子浓度
★
小木虫(金币+0.5):给个红包，谢谢回帖交流
小木虫(金币+0.5):给个红包，谢谢回帖交流
|
会议名称: 第九届全国敏感元件与传感器学术会议 摘要: 本论文的目的是测定纳米硅粉中的多数载流子浓度,主要从两种手段进行研究.一种是通过测量微纳米硅粉压片的红外反射谱,利用等离子共振极小点的方法测定半导体多数载流子的浓度;另一种方法是通过测量压片前硅片电阻率推算出多数载流子浓度.我们已通过试验证明两种测试方法的结果是一致的,这样对于其他未知杂质浓度的纳米硅粉就可以通过测量红外光谱极小点来推算出多数载流子浓度. 关键词: 微纳米硅粉,红外反射谱,电阻率,杂质浓度,多数载流子浓度 会议年代: 2005 |
2楼2009-07-25 17:18:37
元小雪
木虫 (职业作家)
- 应助: 0 (幼儿园)
- 贵宾: 0.947
- 金币: 2216.5
- 散金: 2484
- 红花: 2
- 帖子: 3767
- 在线: 124.5小时
- 虫号: 471521
- 注册: 2007-12-01
- 性别: MM
- 专业: 物理/
3楼2009-07-25 19:25:14
20