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【求助】粉末材料不压片用哪种方法可以测载流子浓度？
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| 请教各位大虾：掺杂材料不压片能测载流子浓度么？哪里能测啊？ |
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利用红外反射谱测定微纳米硅粉中的多数载流子浓度
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小木虫(金币+0.5):给个红包，谢谢回帖交流
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会议名称: 第九届全国敏感元件与传感器学术会议 摘要: 本论文的目的是测定纳米硅粉中的多数载流子浓度,主要从两种手段进行研究.一种是通过测量微纳米硅粉压片的红外反射谱,利用等离子共振极小点的方法测定半导体多数载流子的浓度;另一种方法是通过测量压片前硅片电阻率推算出多数载流子浓度.我们已通过试验证明两种测试方法的结果是一致的,这样对于其他未知杂质浓度的纳米硅粉就可以通过测量红外光谱极小点来推算出多数载流子浓度. 关键词: 微纳米硅粉,红外反射谱,电阻率,杂质浓度,多数载流子浓度 会议年代: 2005 |
2楼2009-07-25 17:18:37
