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【求助】TEM 和 XRD
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| 请教各位，在什么情况下我们学则用X射线衍射，什么情况选择使用电子衍射呢？感觉我们组里一般都是只用XRD，很少用电子衍射啊。还有，那个电子衍射的指数化标记是怎么一回事啊？请求达人帮助：） |
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xjg2008
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楼主没有说清楚到底做什么？ XRD可以进行物相分析、残余应力分析、宏观织构分析等。 TEM指透射电子显微镜(显微术)，可用于物质结构分析、形貌分析等。 两者的区别有很多，主要的有： 1.样品制备，TEM要比XRD复杂很多。 2.电子波长比X射线短得多，同样满足布拉格条件时，电子束的衍射角很小，约为0.01 rad。而X射线产生衍射时，其衍射角最大可接近90度。 3.原子对电子的散射能力远高于它对X射线的散射能力，约高4个数量级，故电子衍射束的强度较大。 标定晶体电子衍射花样（Electron Diffraction Patterns）的目的是确定各点的晶面指数（注意，是倒易点阵），定出晶带轴，并确定样品的点阵类型、物相及位向（如析出相与母相取向关系（Orientation relationship）等）。 很多关于材料研究分析方法或电子显微学知识的书上都介绍了花样的标定（一般是选区电子衍射花样，Selected Area Electron Diffraction，SAD）。有复杂的点阵标定例子（如超点阵、孪晶点阵），也有简单的单晶花样标定。 小木虫上经常有关于材料研究分析方法或电子显微学知识的书的资源。 [ Last edited by xjg2008 on 2009-6-1 at 00:59 ] |
2楼2009-06-01 00:56:02
diamondli99
木虫 (正式写手)
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3楼2009-06-01 08:07:49