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wangshasha

金虫 (著名写手)

[交流] XRD强度的问题

想请教XRD测量时强度的问题

我做XRD粉末衍射,想用来精修,在制样时把样品磨得够细,应该大于500目了,按说粒径应该在5微米时效果最好,我想我的样品粒度还远远没有达到这个要求。但是测量结果发现最强峰只有1200,这恐怕就不能用来精修了吧?我用步长扫描,0.02度/步,一步2秒。

另外,不磨这么细时,强度可以达到70000多。我是不是可以不磨这么细进行测量呢?

还是说这么测量也凑合,但是精修的结果就不这么准确了呢?该如何解决呢?

我把测量结果放在纳米盘了
http://www.namipan.com/d/SMS.raw ... d9c1bb2b444485a0000

[ Last edited by wangshasha on 2009-5-18 at 15:40 ]
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可惜改不了登录名...唉
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gyliu

铁杆木虫 (职业作家)

引用回帖:
Originally posted by lizuoxi at 2009-5-19 02:03:


其实我也没有好的经验。
多尝试。先粗研,再细研,直到强度够大。
有时候是样品本身问题,怎么研也达不到要求。
这时候就换试验条件。
尽可能制备晶形好的样品。
你制样有啥心得呢?

衍射强度和晶粒大小太大关系,磨细了只是造成峰形宽化,峰高降低一点,但是积分强度不会变的。可是晶粒度只有到了纳米级衍射峰才会有比较明显宽化和峰高降低,这也是XRD求晶粒大小的出发点。而楼主的衍射峰是由7万降到1200,这应该不是样品的问题,你用研钵磨怎么也不会到纳米级吧,要真是那样,你就是一个球磨机了,呵呵。

楼上有朋友建议不要磨太细,这是不对的,严格来说,要想修结构,就需要得到好的、可靠的强度数据,样品一定要在5u以下,中等强度的衍射峰的峰高在5000到10000就可以了。还有关于步长的问题,不是越小越好,要根据你的衍射峰的半峰宽来确定,一般是半峰宽的1/5到1/10就可以了。
7楼2009-05-19 09:04:21
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gyliu

铁杆木虫 (职业作家)

引用回帖:
Originally posted by xi2004 at 2009-5-19 09:14:
不知道是磨不细时所有的峰强度都增大了,还是个别的?

对于那些不规则形貌的样品(可以用电镜看到),这个问题就比较大了,而且是每次制样测量的结果都不一样,强度变化也没有规律,这是因为各个晶面的统计分布比较查了。我曾经做过一个SiO2的样品,专门看这种粒度对衍射强度的影响,主要看了SiO2五指峰的变化,如果样品磨得不够细,我制好样品后,先做了一遍,然后只是将样品架旋转了90度,两个结果就大不相同了。
9楼2009-05-19 09:41:39
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gyliu

铁杆木虫 (职业作家)

引用回帖:
Originally posted by lizuoxi at 2009-5-19 10:42:


是不是可以说,人为地研磨,时间越久,研磨越细,数据也越好吗?
gyliu朋友,你是怎么研磨样品呢?增长见识

磨得时间常了,当然好,但是也有极限呀。至于这里所说的数据好主要是指强度数据的重现性。
13楼2009-05-19 12:51:10
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gyliu

铁杆木虫 (职业作家)

★ ★ ★ ★ ★
wangshasha(金币+5,VIP+0):多谢一直帮助!! 5-27 21:01
引用回帖:
Originally posted by wangshasha at 2009-5-20 08:12:
据我理解是指同一个样品,多次测量的结果,其强度大小和相对情况,没有变化,不知对否?

就是这个意思
18楼2009-05-20 09:58:49
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