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关于TEM条纹表征 已有1人参与
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样品如果只有TEM晶格条纹，标定出来晶格条纹能根据查阅的卡片确定晶面么，再有如果含有两个交叉的条纹，标定出来的两个晶面（hkl）和俩条纹夹角有啥对应关系么，真心求解决！ 发自小木虫IOS客户端 |
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2楼2019-03-28 21:14:21
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xrd 发自小木虫Android客户端 |
3楼2019-03-28 21:28:17
gxytju2008
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4楼2019-03-28 23:04:09
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是这样的，因为无法把东西提取出来，因为加的东西单一，所以基本可以确定是什么，但xrd不好做，但是tem有些能拍到多向条纹，请问怎么多向条纹之间有什么规律可以说明晶面的呢，比如夹角之类的，这块不是很懂，请您赐教 发自小木虫IOS客户端 |
5楼2019-03-28 23:26:56
gxytju2008
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颗粒小又多晶的话建议做电子衍射，拿到多晶环图谱分析，比较类似xrd的信息。高分辨透射拿到的多向条纹分析起来难度大很多，你要非常清楚晶体学对称性和单晶衍射原理，不同晶系结构角度都完全不一样的，如果不是专门想搞这个我建议你还是别碰了，或者重头看书学，不是几句话的事情 发自小木虫Android客户端 |
6楼2019-03-28 23:34:21
20082556
木虫 (著名写手)
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【答案】应助回帖
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晶格条纹和晶面有基本的对应关系的，你可以根据图像量取的晶面间距去初步判断晶面，如果能看到两条交叉的条纹，说明观察方正接近一个低指数正轴，晶格条纹角度和实际晶面角度一般是一致的。 如果要想精确分析，建议和电子衍射结合起来，晶面间距量取误差会大些。 另外建议楼主可以放下图，这样方便大家了解你的具体问题，然后给出恰当的建议 发自小木虫Android客户端 |
7楼2019-03-29 08:53:28
