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四月君

新虫 (初入文坛)

[求助] 关于TEM条纹表征 已有1人参与

样品如果只有TEM晶格条纹,标定出来晶格条纹能根据查阅的卡片确定晶面么,再有如果含有两个交叉的条纹,标定出来的两个晶面(hkl)和俩条纹夹角有啥对应关系么,真心求解决!

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lqm070

铁杆木虫 (著名写手)

不是吧,高分应该都能看到。那图片给各位老师看看,我也学习一下

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2楼2019-03-28 21:14:21
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3楼2019-03-28 21:28:17
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gxytju2008

专家顾问 (文坛精英)

有双向或者以上条纹建议用单晶卡片做单晶衍射模拟确认入射轴,单向条纹通常不能完全肯定证明一个物象的存在

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4楼2019-03-28 23:04:09
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四月君

新虫 (初入文坛)

引用回帖:
4楼: Originally posted by gxytju2008 at 2019-03-28 23:04:09
有双向或者以上条纹建议用单晶卡片做单晶衍射模拟确认入射轴,单向条纹通常不能完全肯定证明一个物象的存在

是这样的,因为无法把东西提取出来,因为加的东西单一,所以基本可以确定是什么,但xrd不好做,但是tem有些能拍到多向条纹,请问怎么多向条纹之间有什么规律可以说明晶面的呢,比如夹角之类的,这块不是很懂,请您赐教

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5楼2019-03-28 23:26:56
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gxytju2008

专家顾问 (文坛精英)

颗粒小又多晶的话建议做电子衍射,拿到多晶环图谱分析,比较类似xrd的信息。高分辨透射拿到的多向条纹分析起来难度大很多,你要非常清楚晶体学对称性和单晶衍射原理,不同晶系结构角度都完全不一样的,如果不是专门想搞这个我建议你还是别碰了,或者重头看书学,不是几句话的事情

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6楼2019-03-28 23:34:21
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20082556

木虫 (著名写手)

【答案】应助回帖

感谢参与,应助指数 +1
晶格条纹和晶面有基本的对应关系的,你可以根据图像量取的晶面间距去初步判断晶面,如果能看到两条交叉的条纹,说明观察方正接近一个低指数正轴,晶格条纹角度和实际晶面角度一般是一致的。
如果要想精确分析,建议和电子衍射结合起来,晶面间距量取误差会大些。
另外建议楼主可以放下图,这样方便大家了解你的具体问题,然后给出恰当的建议

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7楼2019-03-29 08:53:28
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