| 查看: 619 | 回复: 5 | ||
| 当前主题已经存档。 | ||
| 当前只显示满足指定条件的回帖,点击这里查看本话题的所有回帖 | ||
[交流]
【求助】 AFM的纳米尺度评估
|
||
| AFM的纵向分辨率很高,可以作为分析颗粒尺度的依据;而水平分辨率由于受到探针曲率半径及扫描侧向力等影响,很难作为颗粒尺度评估的依据。请问可以通过什么数学方法校正,使水平分辨率可以进行纳米尺度评估?谢谢~~~ |
hero0423
铁杆木虫 (著名写手)
- 应助: 1 (幼儿园)
- 金币: 7184.6
- 红花: 1
- 帖子: 1065
- 在线: 72.9小时
- 虫号: 446854
- 注册: 2007-10-30
- 性别: GG
- 专业: 应用高分子化学与物理

6楼2009-04-05 22:44:56
dingyanhuai
木虫 (小有名气)
- 应助: 1 (幼儿园)
- 金币: 2780.6
- 散金: 5
- 红花: 1
- 帖子: 246
- 在线: 150.6小时
- 虫号: 457170
- 注册: 2007-11-12
- 专业: 固体力学
2楼2009-03-27 09:36:38
3楼2009-03-27 12:32:45
ufoer
荣誉版主 (著名写手)
PNNL- new life
- 应助: 0 (幼儿园)
- 贵宾: 1.76
- 金币: 1202.8
- 散金: 5824
- 红花: 8
- 帖子: 2045
- 在线: 53.7小时
- 虫号: 520591
- 注册: 2008-03-07
- 性别: GG
- 专业: 凝聚态物性 II :电子结构
- 管辖: 无机非金属

5楼2009-04-05 01:02:17









回复此楼
10