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ssb3821

铁虫 (初入文坛)

[交流] 【求助】 AFM的纳米尺度评估

AFM的纵向分辨率很高,可以作为分析颗粒尺度的依据;而水平分辨率由于受到探针曲率半径及扫描侧向力等影响,很难作为颗粒尺度评估的依据。请问可以通过什么数学方法校正,使水平分辨率可以进行纳米尺度评估?谢谢~~~
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dingyanhuai

木虫 (小有名气)


memser(金币+1,VIP+0):可以提供下文献,呵呵 3-27 11:42
这个比较麻烦,无非就是先确定针尖的大小、形状,然后进行计算。有相关的文献报道。
2楼2009-03-27 09:36:38
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wsujlu378


wdwsnnu(金币+1,VIP+0):3x 3-29 15:08
有的文献没有经过校正液直接就给出结果了
3楼2009-03-27 12:32:45
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ssb3821

铁虫 (初入文坛)

Thank you!!
4楼2009-04-03 23:31:41
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ufoer

荣誉版主 (著名写手)

PNNL- new life


wdwsnnu(金币+0,VIP+0):(⊙o⊙) 4-5 22:47
wdwsnnu(金币+1,VIP+0):3x,欢迎常来 4-5 22:47
要求水平分辨率的话,直接看场发射SEM就可以
xxxxxxxxxxxxx
5楼2009-04-05 01:02:17
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hero0423

铁杆木虫 (著名写手)


wdwsnnu(金币+0,VIP+0):3x,欢迎常来 4-5 22:46
wdwsnnu(金币+1,VIP+0):3x,欢迎常来 4-5 22:47
Y. Wang*, X.Y. Chen, “Carbon nanotubes: A promising standard for quantitative evaluation of AFM tip apex geometry”, Ultramicroscopy 2007, 107, 293
这篇文献要解决的就是LZ所说的水平方向的误差问题
workhardandplayhard
6楼2009-04-05 22:44:56
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