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【求助】 AFM的纳米尺度评估
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| AFM的纵向分辨率很高，可以作为分析颗粒尺度的依据；而水平分辨率由于受到探针曲率半径及扫描侧向力等影响，很难作为颗粒尺度评估的依据。请问可以通过什么数学方法校正，使水平分辨率可以进行纳米尺度评估？谢谢~~~ |
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