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小木虫论坛-学术科研互动平台 » 材料区 » 晶体 » 测试表征 » 求助，测试掠入射xrd
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fanmengya

新虫 (初入文坛)

[交流] 求助，测试掠入射xrd 已有2人参与

样品为氧化钒55nm，每次用xrd测试结果都有不同，峰比较弱，想咨询如果用掠入射测试，结果会好一些吗？求助，谢谢！

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1楼 2018-01-09 10:25:39
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juloong

木虫 (职业作家)

X射线衍/散射测试
★
小木虫: 金币+0.5, 给个红包，谢谢回帖
楼上回答是对的，可以用大功率转靶xrd或者增加积分时间来解决

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3楼2018-01-09 11:19:35
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gyliu

铁杆木虫 (职业作家)
★
小木虫: 金币+0.5, 给个红包，谢谢回帖
掠入射是针对薄膜的，如果是粉末，没必要，可以增加数据收集时间。55nm，纳米级了，衍射峰会有点宽化。
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2楼2018-01-09 11:17:19
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fanmengya

新虫 (初入文坛)
引用回帖:
3楼: Originally posted by juloong at 2018-01-09 11:19:35
楼上回答是对的，可以用大功率转靶xrd或者增加积分时间来解决

是薄膜，是如何通过增加功率的方法做到呢？就是用普通的xrd来增加吗？因为刚开始做不是特别懂

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4楼2018-01-09 14:57:56
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fanmengya

新虫 (初入文坛)
引用回帖:
2楼: Originally posted by gyliu at 2018-01-09 11:17:19
掠入射是针对薄膜的，如果是粉末，没必要，可以增加数据收集时间。55nm，纳米级了，衍射峰会有点宽化。

是薄膜，因为普通xrd做出来效果不是很好，峰不是很强，而且有时候做不出来，所以想来问一下做掠入射会不会更好一些…谢谢！！

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5楼2018-01-09 14:59:40
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