| 查看: 1060 | 回复: 10 | |||
| 当前只显示满足指定条件的回帖,点击这里查看本话题的所有回帖 | |||
[交流]
在硅片上外延了一层薄膜,怎么测量该薄膜的电阻率? 已有4人参与
|
|||
|
用四探针法测过,但是硅衬底影响测量结果,电流会从硅衬底上过,而不从薄膜上过,还有其他方法可以测吗? 发自小木虫Android客户端 |
» 猜你喜欢
北京航空航天大学航空发动机研究院2026年暑期学校通知
已经有2人回复
Progress in Materials Science 期刊投稿求助
已经有2人回复
有机高分子材料论文润色/翻译怎么收费?
已经有51人回复
【征稿通知】2027 IPPTC 国际石油石化技术会议征稿启动
已经有0人回复
韩国延世大学材料理论课题组(Materials Theory Group)招生启事
已经有111人回复
韩国延世大学材料理论课题组(Materials Theory Group)招聘启事
已经有110人回复
分享力学性能测试标准
已经有0人回复
意大利都灵理工大学AFM 课题组招收2027年CSC公派博士研究生
已经有0人回复
8楼2018-04-19 14:26:15
2楼2017-10-19 13:12:11
aaa2742
木虫 (正式写手)
- 应助: 0 (幼儿园)
- 金币: 5514.9
- 散金: 375
- 红花: 1
- 帖子: 552
- 在线: 77.8小时
- 虫号: 1646863
- 注册: 2012-02-27
- 专业: 电路与系统
3楼2017-12-21 16:40:49
4楼2018-04-18 20:54:10










回复此楼
200