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r9arrow

金虫 (小有名气)

[交流] 【请教】用SEM测超薄薄膜厚度,如何制样?

薄膜是以溶胶凝胶法涂在Pt/Ti/SiO2/Si基片上的,厚度大概50nm,用扫描电镜测量薄膜厚度时如何制样才能保证导电性足够好?

[ Last edited by NJUT_tiger on 2008-12-24 at 16:04 ]
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突然来了一个机会,空空的没有目的;就像姑娘当初生了我们,我们没有说愿意
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sexyapple

木虫 (著名写手)


小木虫(金币+0.5):给个红包,谢谢回帖交流
FESEM还是可以的, 制备样品就是切好样品的新断面去测 注意到你的样品是在Pt上,有可能Pt的韧性会导致断面被Pt遮住  不过应该也是能观察到厚度的 只是不像Si断面清晰罢了
15楼2009-06-02 10:52:40
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grinner

金虫 (正式写手)

SEM测厚度?是不是扫描剖面来看?镀金就可以了
2楼2008-12-17 09:09:36
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zzy456

至尊木虫 (职业作家)

用液氮泡一下,断面后看侧面
努力不一定成功,放弃注定失败
3楼2008-12-17 09:21:29
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r9arrow

金虫 (小有名气)

是看截面啊,但因为基片上SiO2,Si都不导电,所以看扫描电镜时图像漂得很厉害,各位有没有做过的,指点一下啊
突然来了一个机会,空空的没有目的;就像姑娘当初生了我们,我们没有说愿意
4楼2008-12-17 14:43:45
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