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风雨182

木虫 (正式写手)

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[交流] 【请教】SEM,BET,TEM,XRD,N2吸附

那位大侠知道SEM,BET,TEM,XRD,N2吸附分别表征什么，他们之间的区别是什么啊？请具体点详解

[ Last edited by 张甜 on 2008-11-10 at 08:24 ]

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1楼 2008-11-10 08:22:18

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景茂祥

铜虫 (小有名气)

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XRD、FTIR、SEM

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（1）X-射线衍射分析（XRD）：X射线衍射是固体物质结构分析的重要工具，其原理是X射线投射到试样上，产生一个不连续散射图像，它直接与单个原子的相对位置和其散射能力相关，晶体的晶格对X射线的衍射原理符合布拉格方程。一种物质的衍射图像可以用角位置（2θ）、对称关系和布拉格反射的强度来表征，从而确定试样的相组成、晶格常数、结晶度和颗粒尺寸等参数。
本实验所用仪器为日本理学的D/max-rA型 X-射线衍射仪（XRD，Cu Ka,λ=1.54,石墨单色器，管流100mA，管压50kV，扫描速度7°/min,步宽0.01°/min）分析前驱体及热处理产物的物相组成。
（2）红外光谱分析（FT-IR）：可以有效地表征活性基团以及原子键的扭曲和振动，当分子振动引起分子偶极矩变化时，就能产生红外吸收，并且不同的官能团产生的红外吸收不一样，从而为我们定性（或定量）分析官能团提供可能。

（3）扫描电子显微镜（SEM）：扫描电子显微镜是研究材料的微观组织、形貌及成份分析的有力工具，其原理是通过电子束在一定范围内对试样表面进行扫描，在其表层产生二次电子、背散射电子、俄歇电子和特征X射线，通过探测这些信号，可获得相关试样的微观组织、形貌和化学成分的信息。