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小木虫论坛-学术科研互动平台 » 材料区 » 无机非金属 » 材料测试 » 【请教】SEM,BET,TEM,XRD,N2吸附
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风雨182

木虫 (正式写手)

[交流] 【请教】SEM,BET,TEM,XRD,N2吸附

那位大侠知道SEM,BET,TEM,XRD,N2吸附分别表征什么，他们之间的区别是什么啊？请具体点详解

[ Last edited by 张甜 on 2008-11-10 at 08:24 ]
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1楼 2008-11-10 08:22:18
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张甜

荣誉版主 (知名作家)

我的老公是雀神
★ ★
风雨182(金币+2,VIP+0):谢谢你啊版主，能不能更详细点啊
SEM可以看材料的形貌

BET测试材料的比表面积

TEM也是看材料的形貌，看到的颗粒会更小

XRD可以测试材料是不是纯的什么物质，计算晶包参数，计算颗粒大小
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没有在天空留下痕迹，但是我真的飞过。
2楼2008-11-10 08:26:44
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yztian

铁杆木虫 (著名写手)
★
风雨182(金币+1,VIP+0):谢谢你
SEM看表面形貌，但要求样品表面要平整，清洁，最好观察前抛光。
TEM可以观察更微观的结构，打衍射，观察位错结构。
主要用到这两种手段，只能说这么多了。
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3楼2008-11-10 09:04:11
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kaixing004

木虫 (正式写手)
★
风雨182(金币+1,VIP+0):谢谢啊
SEM可以表征形貌，还可以表征表面成分分布
XRD晶型分析，也可以测应力分布
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PTFE微孔膜技术研发工程师
4楼2008-11-10 12:02:31
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lulinsmann

木虫 (著名写手)

三无小小鸟
★ ★ ★
风雨182(金币+3,VIP+0):谢谢啊大哥缘分啊
凑凑热闹
SEM：主要用于表面形貌表征；结合EDS，可做微区成分分析；
TEM：也可以表征材料形貌，但不局限于表面形貌，可以看到内部信息（因为是透射电子嘛）；可以表征相结构（通过电子衍射，分析起来很复杂）；结合EDS，也可以做微区成分分析（真正的微区，因为分辨率要远高于SEM）；有的还配备EELS，相当于微区XPS（不仅仅是成分了，还有价键分析）；
XRD：主要用于表征材料的相结构（比TEM方便，但需要有足够的量）；也可以进行粒度分析（根据谢乐公式）；还可以表征应力
其他几个没用过，就不清楚了
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江湖背影
5楼2008-11-10 16:15:38
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q108

银虫 (小有名气)
★
风雨182(金币+1,VIP+0):谢拉
好
SEM：主要用于表面形貌表征；结合EDS，可做微区成分分析。能不能具体介绍下怎么进行成分分析？楼上的
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6楼2008-11-10 17:00:31
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jackieqd

新虫 (初入文坛)
★
风雨182(金币+1,VIP+0):谢拉
SEM主要是测样品的形貌，得到的往往是直接信息，可以结合EDX or EDS 做元素分析

TEM 主要册样品的形貌和结构,分标率高,更清晰,得到的不往往是结构信息,
N2 吸附是物理吸附的一种,主要测比表面积 (BET)和空隙分布的
BET是通过物理或者化学吸附得到的,
XRD 是测晶体结构的,还有SAXS 小角度散射
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7楼2008-11-10 23:41:56
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景茂祥

铜虫 (小有名气)

XRD、FTIR、SEM

★ ★ ★
风雨182(金币+1,VIP+0):谢拉
风雨182(金币+1,VIP+0):谢拉
风雨182(金币+1,VIP+0):谢拉
（1）X-射线衍射分析（XRD）：X射线衍射是固体物质结构分析的重要工具，其原理是X射线投射到试样上，产生一个不连续散射图像，它直接与单个原子的相对位置和其散射能力相关，晶体的晶格对X射线的衍射原理符合布拉格方程。一种物质的衍射图像可以用角位置（2θ）、对称关系和布拉格反射的强度来表征，从而确定试样的相组成、晶格常数、结晶度和颗粒尺寸等参数。
本实验所用仪器为日本理学的D/max-rA型 X-射线衍射仪（XRD，Cu Ka,λ=1.54,石墨单色器，管流100mA，管压50kV，扫描速度7°/min,步宽0.01°/min）分析前驱体及热处理产物的物相组成。
（2）红外光谱分析（FT-IR）：可以有效地表征活性基团以及原子键的扭曲和振动，当分子振动引起分子偶极矩变化时，就能产生红外吸收，并且不同的官能团产生的红外吸收不一样，从而为我们定性（或定量）分析官能团提供可能。

（3）扫描电子显微镜（SEM）：扫描电子显微镜是研究材料的微观组织、形貌及成份分析的有力工具，其原理是通过电子束在一定范围内对试样表面进行扫描，在其表层产生二次电子、背散射电子、俄歇电子和特征X射线，通过探测这些信号，可获得相关试样的微观组织、形貌和化学成分的信息。
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8楼2008-11-11 09:01:22
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lulinsmann

木虫 (著名写手)

三无小小鸟

回6楼

能量分散谱，简称能谱，英文简写为EDS（EDX忘了是什么的简写了，基本上跟EDS是一个意思）。它的简单原理是利用电子束轰击样品，获得特征X射线，从而能够分析材料的元素组成，此之谓成分分析。因为需要电子束轰击，所以常作为SEM或TEM的常规附件。
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江湖背影
9楼2008-11-11 15:54:50
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