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关于织构强度,平面应变的问题,求各位大神赐教! 已有2人参与
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用XRD、EBSD测出来的织构数据,最大值不一样,还差得很多(EBSD较大),我想问这是由于EBSD的测试范围较小,还是由于他们本身计算方式和单位不一样? 另为,什么是平面应变(比如文献中being elongated in the plane strain compression test),普通片状拉伸测试是平面应变吗? 谢谢各位大神,学生小白,原谅我问这么low的问题。@comma@wacky1980 |
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26年申博自荐-计算机视觉
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上面有位很懂行的说的差不多了。补充点,ebsd测织构一般都会偏大,无关计算方法,原因还是在于统计性。一般认为至少2000个晶粒的统计才能称织构,严谨些的要求至少上万个才承认。xrd测织构能做好的确实不多,主要是散焦矫正做不好,但有个基本要求,极图上最大值点绝对不能测错,不然就砸饭碗了。 发自小木虫Android客户端 |

15楼2016-09-14 21:19:52
peterflyer
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2楼2016-07-02 04:05:01

3楼2016-07-02 11:11:39
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