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万能的青年铜虫 (正式写手)
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制备的样品中含碳 XPS的C1s校准怎么办 已有1人参与
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Ronny_chou
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2楼2016-06-30 20:55:11
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3楼2016-06-30 20:57:17
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对于为什么需要C校正的解释，自己从仪器论坛上粘贴复制的： 对于绝缘体样品或导电性能不好的样品，经X射线辐照后，其表面会产生一定的电荷积累，主要是荷正电荷。样品表面荷电相当于给从表面出射的自由的光电子增加了一定的额外电压, 使得测得的结合能比正常的要高。样品荷电问题非常复杂，一般难以用某一种方法彻底消除。在实际的XPS分析中，一般采用内标法进行校准。最常用的方法是用真空系统中最常见的有机污染碳的C 1s的结合能为284.6 eV，进行校准。 一般在测试结果中都会单独给出荷电效应的校正值，只要将这个校正值分别加在结合能那一列数据中就可以。这样您得到的图谱就可以直接进行元素化学状态的分析了。 |
4楼2016-06-30 21:27:10
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