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勿忘心安里铁虫 (小有名气)
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AFM测量数据用Nanoscope analysis怎样去具体分析表面粗糙度值 已有1人参与
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请问AFM测量数据用Nanoscope analysis怎样去具体分析表面粗糙度值。 1.我把数据导入软件后，得到如图1 中的4副小图（分别对应Data Type :Height,Peak Force Error,Inphase,Quadrature,我不清楚这些具体有什么区别，希望解答）； 2.取Quadrature对应的Roughness,如图2，可是得到的Ra和Rq为0（且单位为何是V，我看到出现一个 衸 字，具体指是什么）。 3.取Quadrature对应的Section,如图3，在划线后，会得到Ra和Rq（请问有代表性吗）。 4.取Quadrature对应的3D,如图4，怎样对这个图形处理，我发现4种不同模式的3D都不同，一般选择哪一种，为何？ 谢谢诚恳的回复，希望能多交流，我急需处理相关数据！至于金币，我不吝奉上！  1.png  2.png  3.png  4.png |
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6楼2017-12-21 16:05:49
勿忘心安里2楼2016-05-31 10:03:11
勿忘心安里
铁虫 (小有名气)
- 应助: 0 (幼儿园)
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- 帖子: 193
- 在线: 59.2小时
- 虫号: 3832540
- 注册: 2015-04-25
- 性别: GG
- 专业: 半导体晶体与薄膜材料
3楼2016-06-01 10:29:27
4楼2016-06-01 14:39:06
