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luzichuan木虫 (正式写手)
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[交流]
关于williamson-hall法测位错密度的问题
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1.williamson-hall方程里的K是0.89吗？ 2.是不是通过βcosθ/λ-4sinθ/λ斜率就可以得出围观应变？ 3.计算位错密度的时候，晶粒尺寸D计算结果和实测结果相差很大（因为实验材料晶粒尺寸为~10μm，谢乐公式只对100nm以下的材料计算准却），那么测得的位错密度准吗？ 多谢帮助，回复详尽追加金币哦~~ |
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luzichuan
木虫 (正式写手)
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