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小木虫论坛-学术科研互动平台 » 材料区 » 晶体 » 测试表征 » 关于williamson-hall法测位错密度的问题
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luzichuan

木虫 (正式写手)

[交流] 关于williamson-hall法测位错密度的问题

1.williamson-hall方程里的K是0.89吗？
2.是不是通过βcosθ/λ-4sinθ/λ斜率就可以得出围观应变？
3.计算位错密度的时候，晶粒尺寸D计算结果和实测结果相差很大（因为实验材料晶粒尺寸为~10μm，谢乐公式只对100nm以下的材料计算准却），那么测得的位错密度准吗？
多谢帮助，回复详尽追加金币哦~~
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1楼 2016-04-02 14:26:36
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luzichuan

木虫 (正式写手)
另外，仪器误差对半高宽的影响如何消除？
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2楼2016-04-02 14:27:10
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木虫君_123

新虫 (初入文坛)
★
小木虫: 金币+0.5, 给个红包，谢谢回帖
引用回帖:
2楼: Originally posted by luzichuan at 2016-04-02 14:27:10
另外，仪器误差对半高宽的影响如何消除？

你好，请问你的这个问题解决了吗？我遇到了跟你一模一样的问题

发自小木虫Android客户端
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3楼2019-10-25 19:50:24
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幽灵伯克

铁虫 (初入文坛)
引用回帖:
3楼: Originally posted by 木虫君_123 at 2019-10-25 19:50:24
你好，请问你的这个问题解决了吗？我遇到了跟你一模一样的问题
...

解决了吗？求带
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4楼2020-06-18 21:32:40
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