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luzichuan木虫 (正式写手)
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关于williamson-hall法测位错密度的问题
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1.williamson-hall方程里的K是0.89吗? 2.是不是通过βcosθ/λ-4sinθ/λ斜率就可以得出围观应变? 3.计算位错密度的时候,晶粒尺寸D计算结果和实测结果相差很大(因为实验材料晶粒尺寸为~10μm,谢乐公式只对100nm以下的材料计算准却),那么测得的位错密度准吗? 多谢帮助,回复详尽追加金币哦~~ |
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luzichuan
木虫 (正式写手)
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