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pingmo8786金虫 (小有名气)
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[求助]
急求助M-T曲线测试问题
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求助各位前辈： 本人做Ni-Mn-Ga合金薄膜的M-T曲线时，试验结果出现如下问题： 1. 升温曲线和降温曲线处马氏体相的磁化强度不相同（图中的2K-200K之间）； 2. 升温时的奥氏体的磁化强度远低于降温时的奥氏体磁化强度（图中的330K-370K之间）， 请教各位这是什么原因？非常谢谢！ （另附试验图，图为300K升温至400K，随后降温至2K，再升温至400K的M-T曲线，磁场强度为100 Oe，薄膜平行于磁场方向，升温速率3K/min，薄膜厚度4微米，试验设备：squid-vsm）  M-T.jpg |
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pingmo8786
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