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pingmo8786

金虫 (小有名气)

[求助] 急求助M-T曲线测试问题

求助各位前辈:
       本人做Ni-Mn-Ga合金薄膜的M-T曲线时,试验结果出现如下问题:
1. 升温曲线和降温曲线处马氏体相的磁化强度不相同(图中的2K-200K之间);
2. 升温时的奥氏体的磁化强度远低于降温时的奥氏体磁化强度(图中的330K-370K之间),
      请教各位这是什么原因?非常谢谢!
(另附试验图,图为300K升温至400K,随后降温至2K,再升温至400K的M-T曲线,磁场强度为100 Oe,薄膜平行于磁场方向,升温速率3K/min,薄膜厚度4微米,试验设备:squid-vsm)

急求助M-T曲线测试问题
M-T.jpg
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至尊木虫 (知名作家)

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