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xiebugao

铜虫 (正式写手)

[交流] 关于电镀银层的XRD表征

本人遇到一个XRD问题,请教各位!

      想用XRD表征添加剂A对银结晶取向的影响(银是通过电化学方面-电镀得到的):

      最初选择Cu做基体来电镀银,但发现镀层厚度超过3 um时,银就会脱落。

      银层薄了,无法消除铜基体结晶取向对银层生长取向的影响;想做厚又做不了。

      (1)银层多厚时才能消除铜基体效应?

      (2)基体效应存在条件下,用XRD数据说明添加剂的存在对银结晶取向有影响(或无影响)是否科学?

      (3)是否有其他更合适的基体(要求导电)?

      (4)有什么方法提高银层在基体上的结合力?

      (5)银XRD强度是否与银层厚度有关?

问题较多,希望各位能帮忙!  回答不在多少,关键是大家一起讨论一下,谢谢!
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鹤冲天
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enquan123

金虫 (著名写手)

★ ★ ★
xiebugao(金币+3,VIP+0):谢谢你的意见
银的脱落可能与二者之间的晶格不匹配所产生的应力造成的,也可以与热处理过程有关,建议在电镀之后可以采取退火的方式来消除应力试试。
另:XRD的强度与银层的厚度有直接关系,XRD可用于材料的半定量测量!!
No matter what I do,I always forget to forget you...
2楼2008-09-25 08:23:04
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