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有做有机存储测试的前辈吗?如何确定探针与电极表面的接触良好?谢谢! 已有1人参与
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| 菜鸟一个,刚开始接触有机电存储测试,用 ITO/活性层/Al ,用B1500半导体参数仪和探针台测器件的 I~V 曲线,发现很难保证探针和电极的良好接触,不是没接触上,就是划破电极了。我是先调整探针的倾斜角度,肉眼看接近电极表面,然后在镜头里看,向下调整探针,但是不知道以什么作为标准判断已经接触上电极?组里没人会,自己瞎折腾,其他测试方面也有很多不懂啊!希望有经验的前辈多多指教。谢谢! |
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3楼2015-11-20 14:05:55
2楼2015-11-20 13:14:06
4楼2015-11-20 21:53:33
qulunjun
超级版主
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- 虫号: 1988431
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- 专业: 有机高分子功能材料
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luwei2582(穿越千年代发): 金币+10, 应楼主要求,代发金币奖励 2015-12-25 20:34:45
luwei2582(穿越千年代发): 金币+10, 应楼主要求,代发金币奖励 2015-12-25 20:34:45
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一般做这种测试,需要借助探针台上的显微和CCD成像,下针的方式有很多种。一般戳破了,电流很小,成欧姆导电。没有接触,电流电压变化成波纹形式,而且电流在10-14次方左右。下针借助显微,调大倍数,观察时,对焦对准膜表面,铝电极这是比较模糊一些,一般的钨钢探针比较硬,所以旋下去的话要慢,轻轻的走,一接触铝电极,针会向前动一下,这就扎上了,这是测试一下就知道是戳破了还是没有扎上。个人建议,探针如果不好用,可以去试试买一些比较软的探针;或者你可以把针尖轻轻掰弯,类似于钓鱼钩那样,有一个翘脚,这样的戳破的几率比较小。 反正做这样的测试要有耐心,楼主加油咯 |
5楼2015-12-22 10:58:25














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