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luwei2582

金虫 (小有名气)

[求助] 有做有机存储测试的前辈吗?如何确定探针与电极表面的接触良好?谢谢!已有1人参与

菜鸟一个,刚开始接触有机电存储测试,用  ITO/活性层/Al ,用B1500半导体参数仪和探针台测器件的 I~V 曲线,发现很难保证探针和电极的良好接触,不是没接触上,就是划破电极了。我是先调整探针的倾斜角度,肉眼看接近电极表面,然后在镜头里看,向下调整探针,但是不知道以什么作为标准判断已经接触上电极?组里没人会,自己瞎折腾,其他测试方面也有很多不懂啊!希望有经验的前辈多多指教。谢谢!
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luwei2582

金虫 (小有名气)

引用回帖:
2楼: Originally posted by 长峰 at 2015-11-20 13:14:06
找一个万用表,测一下,Al电极与探针后面线路之间的电阻,电阻在两三欧姆应该就是接触很好的了

谢谢您的回复!我的一个探针接触底部的ITO,另一个探针接触顶部的Al,那么这样就是测两根探针的电阻吗?但还有一个问题,如果中间的活性层要通电后才由低导态变到高导态,那之前的电阻应该也比较高是吗?
3楼2015-11-20 14:05:55
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长峰

金虫 (正式写手)

【答案】应助回帖

★ ★ ★ ★ ★
感谢参与,应助指数 +1
luwei2582: 金币+5, 有帮助, 谢谢您的回复 2015-11-20 14:01:29
找一个万用表,测一下,Al电极与探针后面线路之间的电阻,电阻在两三欧姆应该就是接触很好的了
2楼2015-11-20 13:14:06
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长峰

金虫 (正式写手)

【答案】应助回帖

★ ★ ★ ★ ★ ★ ★ ★ ★ ★
luwei2582: 金币+10, ★★★很有帮助, 非常感谢!再给十个。 2015-11-27 14:13:19
引用回帖:
3楼: Originally posted by luwei2582 at 2015-11-20 14:05:55
谢谢您的回复!我的一个探针接触底部的ITO,另一个探针接触顶部的Al,那么这样就是测两根探针的电阻吗?但还有一个问题,如果中间的活性层要通电后才由低导态变到高导态,那之前的电阻应该也比较高是吗?...

两个探针分别测,万用表两个探针,一端接触Al电极,一端接触碰触Al电极的探针后面线路,这样就检测了这一侧探针的接触情况。同理,万用表一端接触ITO,一端接触碰触ITO电极的探针后面线路,这样检测另一个探针的接触情况。
4楼2015-11-20 21:53:33
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qulunjun

铜虫 (小有名气)

★ ★ ★ ★ ★ ★ ★ ★ ★ ★
luwei2582(穿越千年代发): 金币+10, 应楼主要求,代发金币奖励 2015-12-25 20:34:45
一般做这种测试,需要借助探针台上的显微和CCD成像,下针的方式有很多种。一般戳破了,电流很小,成欧姆导电。没有接触,电流电压变化成波纹形式,而且电流在10-14次方左右。下针借助显微,调大倍数,观察时,对焦对准膜表面,铝电极这是比较模糊一些,一般的钨钢探针比较硬,所以旋下去的话要慢,轻轻的走,一接触铝电极,针会向前动一下,这就扎上了,这是测试一下就知道是戳破了还是没有扎上。个人建议,探针如果不好用,可以去试试买一些比较软的探针;或者你可以把针尖轻轻掰弯,类似于钓鱼钩那样,有一个翘脚,这样的戳破的几率比较小。
反正做这样的测试要有耐心,楼主加油咯
5楼2015-12-22 10:58:25
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