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有做有机存储测试的前辈吗？如何确定探针与电极表面的接触良好？谢谢！ 已有1人参与
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| 菜鸟一个，刚开始接触有机电存储测试，用 ITO/活性层/Al ，用B1500半导体参数仪和探针台测器件的 I~V 曲线，发现很难保证探针和电极的良好接触，不是没接触上，就是划破电极了。我是先调整探针的倾斜角度，肉眼看接近电极表面，然后在镜头里看，向下调整探针，但是不知道以什么作为标准判断已经接触上电极？组里没人会，自己瞎折腾，其他测试方面也有很多不懂啊！希望有经验的前辈多多指教。谢谢！ |
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2楼2015-11-20 13:14:06
3楼2015-11-20 14:05:55
4楼2015-11-20 21:53:33
qulunjun
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luwei2582(穿越千年代发): 金币+10, 应楼主要求，代发金币奖励 2015-12-25 20:34:45
luwei2582(穿越千年代发): 金币+10, 应楼主要求，代发金币奖励 2015-12-25 20:34:45
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一般做这种测试，需要借助探针台上的显微和CCD成像，下针的方式有很多种。一般戳破了，电流很小，成欧姆导电。没有接触，电流电压变化成波纹形式，而且电流在10-14次方左右。下针借助显微，调大倍数，观察时，对焦对准膜表面，铝电极这是比较模糊一些，一般的钨钢探针比较硬，所以旋下去的话要慢，轻轻的走，一接触铝电极，针会向前动一下，这就扎上了，这是测试一下就知道是戳破了还是没有扎上。个人建议，探针如果不好用，可以去试试买一些比较软的探针；或者你可以把针尖轻轻掰弯，类似于钓鱼钩那样，有一个翘脚，这样的戳破的几率比较小。 反正做这样的测试要有耐心，楼主加油咯  |
5楼2015-12-22 10:58:25
6楼2015-12-24 09:34:21
7楼2015-12-25 10:24:40
