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lleng

新虫 (小有名气)

[求助] 通过FI-IR判断不同氧化硅表面羟基含量的相对大小已有2人参与

楼主将两种氧化硅材料KIT-6和G-6做了红外表征,结果如附件所示。
根据文献:3660cm-1附近的峰为氧化硅表面羟基通过氢键作用所产生的缔合羟基,3747cm-1附近的峰为氧化硅表面的自由硅羟基。
我的理解:由于在Si-O-Si (1087, 802, 574, 462cm-1)的峰强度一致的情况下,由于G-6在3660cm-1和3747cm-1,特别是3660cm-1处的强度要高于KIT-6,那么是不是可以说明对比与KIT-6而言,G-6的表面是不是含有更多的表面羟基?
对此问题已经纠结了很久,非常盼望大家能给我一点建议,关于1)我的观点是否正确 2)如果不正确的话,我应该做其他的什么工作(譬如表征)来验证G-6上具有更多表面羟基?
欢迎大家指点一二,谢谢!

通过FI-IR判断不同氧化硅表面羟基含量的相对大小
FT-IR.jpg
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Workmakesfolksshine
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liwenzheng

木虫 (正式写手)

大哥大

【答案】应助回帖

★ ★ ★ ★ ★ ★ ★
wonderfulong: 金币+2, 应助指数+1, 谢谢回帖,欢迎常来交流。 2016-02-02 16:27:32
lleng: 金币+5, ★★★很有帮助, 非常感谢您的回复,很有帮助!祝新春快乐! 2016-02-06 23:33:44
楼主测表面羟基的时候是否对表面进行了脱水处理,看你的1600多一点的地方峰很明显,不知道是否是水。如果是水的话结论就不能轻易的下了。材料不同吸水性不同。建议一百多度左右脱物理吸附水,抽真空三到四小时。再进行比较

发自小木虫Android客户端
4楼2016-02-02 11:53:51
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相识是缘

铁杆木虫 (著名写手)

博士

【答案】应助回帖

★ ★ ★ ★ ★ ★ ★ ★ ★ ★
lleng: 金币+10, ★★★很有帮助, 非常感谢你的回复,很有帮助! 2015-11-25 20:18:21
wonderfulong: 应助指数+1 2016-02-02 16:28:03
个人认为可以,但是需要注意3400cm-1处吸附水的羟基振动,可以结合1640cm-1处的峰判断
Hope
2楼2015-11-25 09:33:03
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Z11030154

木虫 (正式写手)

【答案】应助回帖

★ ★ ★ ★ ★ ★ ★
wonderfulong: 金币+2, 应助指数+1, 谢谢回帖,欢迎常来交流。 2016-02-02 08:48:56
wonderfulong: 应助指数+1 2016-02-02 16:27:49
lleng: 金币+5, ★★★很有帮助, 多谢回复,应该我请教你们才是。祝新春快乐,新年成果丰硕! 2016-02-06 23:34:35
楼主你好:
不知楼主问题解决了吗?对照图谱,-OH的出峰位的确很明显,但不排除SIO2表面自身-OH,还有游离水分子的—OH振动,我们使用原位红外做过类似实验,先高温处理后N2吃扫降温,经高真空脱附,N2吹扫,不断切换气体吹扫,在3600cm-1仍有峰出现,有可能来自于气相中-OH, 另外,对于氧化物表明-OH的富集或者脱除都有哪些办法还请楼主多多指教
顺祝春节快乐
想自己该想的,做自己该做的
3楼2016-02-02 01:28:45
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