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12312328824金虫 (正式写手)
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对TEM下位错迹线的分析
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小弟由于对HCP金属TEM知识储备较浅，文章中的对位错的分析解释始终搞不太明白，希望明白的大神们可以不吝赐教，小弟在此谢过！ 如图，该图是我最近在一篇文献中看到的一张透射图。 文献为( Scripta Mater. 62 (2010) 536-539)，实验材料为单晶镁合，压缩后沿[11-20]方向拍摄。文献中对该图片的描述为“TEM image of deformed micropillar, showing both pyramidal dislocations and type <c> dislocations, as indicated by the arrows. The pyramidal dislocations are bounded at the intersection of the basal and the pyramidal planes. ” 文献中说平行于基面迹线的为{10-11}锥面上的位错，文章中原文为“The dislocations parallel to the basal trace are pyramidal dislocations on the {10-11} plane, and they are bounded at the intersection between the pyramidal and the basal planes and possess both <c> and <a> components”. 还有一个问题，就是仅凭位错迹线可以推断出HCP金属中位错的类型吗（在非双束条件下）？比如位于哪个滑移面上，哪种位错类型？比如就是最常见的基面<a>刃型位错，如果在[11-20]入射条件下，迹线会与(0002)面的迹线存在什么关系呢？ 希望诸位TEM方面的专家(大神)给予一些建议，非常感谢。  图片1.jpg |
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金虫 (正式写手)
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