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聚焦离子束加工与扫描电子显微镜成像服务
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扫描电镜/聚焦离子束微纳加工机 仪器介绍 FIB/SEM“双束”显微镜是FEI公司将聚焦离子束(FIB)技术和扫描电子显微镜(SEM)有机地结合在一起而设计的新产品。通过离子束进行微束加工;利用成像系统进行电镜观察;通过气体注入系统进行Pt沉积和金属、非金属刻蚀;成为集形貌观测、定位制样、成分分析、薄膜沉积和刻蚀各个过程于一身的新型纳米加工与分析技术。 技术参数 1.SEM分辨率:1.1nm@15kV,最大放大倍数为600k× 2.FIB加工范围和精度:最小刻蚀线宽:15nm, 最小铂Pt沉积线宽:20nm, 最大深宽比:10/1, 单次加工范围:<100um (可大面积拼接); 工作台行程:X, Y=50mm, Z=25mm, T= -15°~60°, R=n×360;样品厚度:<55mm; 3.FIB分辨率:7nm (可达到5nm),最大放大倍数为300k× 4.气体注入系统(GIS):Pt沉积气体、绝缘气体辅助刻蚀(IEE) 5.纳米操作仪可以在X、Y、Z三个方向上以任意角度操纵样品,其操作范围是Z:12mm;X、Y:240mm;精度可达Z:0.5nm,X、Y:5nm;样品旋转器可带动样品在轴向360度旋转,精度达到10-7rad/步进 主要应用领域 高精度复杂的微纳米结构和器件的加工; 微电子集成电路的缺陷检测分析和修整; TEM样品的制备和提取; 微纳米生物芯片和光学器件加工研究; 微/纳米器件的制备和操纵。 收费标准 FIB成像溅射加工: 2500元/时 SEM成像:200元/小时 Pt沉积加工/IEE辅助刻蚀加工:50元/分钟 金相试样制备:100元/件 利用纳米操作仪制备TEM样品:价格面议 利用纳米操作仪进行微纳米器件制备:价格面议 联系方式 联系人:徐宗伟 Tel:022-59813871 Fax:022-59813864 E-mail:zongweixu@163.com 实验室地点: 天津微纳制造技术有限公司纳米加工实验室 (天津经济技术开发区第四大街80号天大科技园 A2座1层) |
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