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in situ TEM，thickness effect 讨论求教 已有1人参与
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各位虫子好， TEM样品用于观察现象的薄区厚度一般在100nm以下。 对于原位实验（in situ TEM），所观察的实验现象，受不受 thickness effect（表面能，电子束方向的厚度约束等）影响？ 换言之，TEM中得到的实验现象与大块试样的实验现象是否一致？ 例如，in situ TEM中界面迁移行为与块体样品中界面行为的对比：in situ TEM中界面是否收到样品表面的影响。 PS. 课题不是讨论thickness effect对TEM观察现象的影响；现在题主做了一个in situ TEM的加热实验，未雨绸缪，怕审稿人问thickness effect这个问题。 当然不同的现象，thickness effect可能影响不一样，希望大家附上参考文献。 |
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spurdy
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【答案】应助回帖
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3楼2015-09-30 10:01:04
leongoall
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楼主的问题我想问很久了，不过一直没有做TEM所以不知如何描述问题。 我想做的一组实验测金属材料在辐照前后的TEM。目前有两种方案，一种就是先制备TEM样品再去辐照，然后对比辐照前后的TEM图；另外一种就是先辐照，然后再制备TEM样，跟未辐照的作对比。就是因为考虑到thickness effect在辐照过程中会影响材料属性，所以一直不知道该采用哪种方案。 顺便也搭车问个问题：thickness effect与free surface effect （不光是表面能，还有应力应变曲线的变化）一般都是同时出现的吧？有没有大侠有应力应变曲线的thickness effect相关文献啊？！ |
2楼2015-09-27 19:31:23
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