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in situ TEM，thickness effect 讨论求教已有1人参与
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各位虫子好， TEM样品用于观察现象的薄区厚度一般在100nm以下。 对于原位实验（in situ TEM），所观察的实验现象，受不受 thickness effect（表面能，电子束方向的厚度约束等）影响？ 换言之，TEM中得到的实验现象与大块试样的实验现象是否一致？ 例如，in situ TEM中界面迁移行为与块体样品中界面行为的对比：in situ TEM中界面是否收到样品表面的影响。 PS. 课题不是讨论thickness effect对TEM观察现象的影响；现在题主做了一个in situ TEM的加热实验，未雨绸缪，怕审稿人问thickness effect这个问题。 当然不同的现象，thickness effect可能影响不一样，希望大家附上参考文献。 |
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leongoall
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楼主的问题我想问很久了，不过一直没有做TEM所以不知如何描述问题。 我想做的一组实验测金属材料在辐照前后的TEM。目前有两种方案，一种就是先制备TEM样品再去辐照，然后对比辐照前后的TEM图；另外一种就是先辐照，然后再制备TEM样，跟未辐照的作对比。就是因为考虑到thickness effect在辐照过程中会影响材料属性，所以一直不知道该采用哪种方案。 顺便也搭车问个问题：thickness effect与free surface effect （不光是表面能，还有应力应变曲线的变化）一般都是同时出现的吧？有没有大侠有应力应变曲线的thickness effect相关文献啊？！ |
2楼2015-09-27 19:31:23
spurdy
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【答案】应助回帖
| 做in-situ TEM， 特別是in-situ HRTEM�?驗，�?驗本身很多就是研究size-dependent的現象，比如thickness，diameter。surface energy也是本身與尺度有關。我們做�?驗的結果本身就與環境有很大的關係，比如溫度，?穸龋瑯悠反笮。瑢?驗儀器的當前條件以及型號都有影響。只要我們交代清楚�?驗條件就行。我們所看到的�?驗結果就是當前條件下的結果。所以很多已經發表了的paper上結果也未必能重現。但是也不代表造假，因為兩個�?驗的條件不可能100%一樣。設計�?驗的時候只能�?量只測一種結果，避免或者排除其他的干擾…… |
3楼2015-09-30 10:01:04