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磁控溅射半导体镀电极,漏电流较大 已有1人参与
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如题,现在使用磁控溅射为高阻半导体制备电极 工艺如下:射频溅射Cr 25W,0.4Pa,12A 再制备200nm的Au 现在发现,Cr功率增加后IV测试漏电流较大,Cr功率降低后性能可以,但是结合性较差 亲们,帮帮忙啊~为啥Cr功率增加后IV测试漏电流会变大??? |
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perry_ping
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2楼2015-07-28 13:35:13










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